美国Hinds公司的光学应力测量仪/应力双折射测量系统广泛用于科研测量光学组件应力分布测量,玻璃面板/透镜/晶体注塑成品等应力分布检测,150AT系列应力双折射测量仪提供极高测量速度,极高的测量分辨能力(<1 mm),Hinds公司的光学应力双折射测量系统应力测量仪产品软件直观显示待测样品应力情况,便于操作和日常监测。
光弹调制器
多通道锁相放大器-同步采样测量
MFLI 系列500k/5M锁相放大器
蓝宝石和石英石板小双折射的测量
玻璃制品内应力的测量
椭偏仪在位表征电化学沉积的系统搭建(十九)- 圆形微流腔体
椭偏仪在位表征电化学沉积的系统搭建(三)-应用案例
椭偏仪在位表征电化学沉积的系统搭建(五)-Pb和Cu2O薄膜的电化学沉积
椭偏仪在位表征电化学沉积的系统搭建(四)-电化学沉积及原理
椭偏成像技术(二)- 从单波长椭偏成像到光谱椭偏成像
椭偏仪在位表征电化学沉积的系统搭建(十五)- 弧形电解池的设计
光谱型椭偏仪的校准(二)-椭偏仪的基本原理
椭偏仪在位表征电化学沉积的系统搭建(十二)- 光学常数的提取与COMSOL Multiphysics
椭偏仪(八)-椭偏仪测量薄膜的优点和特点
椭偏仪在位表征电化学沉积的系统搭建(九)- 光学模型的建立与数据的提取
椭偏仪(三)-椭偏测量原理
椭偏仪在位表征电化学沉积的系统搭建(六)- 在位监测电化学沉积
椭偏仪(一)-椭偏成像技术简介
椭偏仪与偏振相位(十二)-斯托克斯椭偏仪的偏振定标实验结果与结论
光谱型椭偏仪的校准(三)-空气测量法
非偏振分光镜对椭偏仪的影响(二)-NPBS引入的椭偏参数误差
椭偏成像技术(一)-椭偏成像的发展
椭偏仪与偏振相位(九)- 传统的仪器偏振定标的误差
椭偏仪在位表征电化学沉积的系统搭建(三十一)- 单波长实时监测
椭偏仪与偏振相位(六)- 精确测量波片相位延迟量的原理
椭偏仪在位表征电化学沉积的系统搭建(二十八)- 中心能量的演变
椭偏仪与偏振相位(三)-补偿法的原理及误差分析
椭偏仪在位表征电化学沉积的系统搭建(二十五)- 全波段沉积过程的准在位测试分析-介电常数
椭偏成像技术(八)椭偏成像技术的未来展望
椭偏仪在位表征电化学沉积的系统搭建(二十一)- 不同沉积条件CU20制备
椭偏成像技术(五)光谱椭偏成像的发展(第三部分)
椭偏仪在位表征电化学沉积的系统搭建(十七)- 系统误差与醋酸铅实验
光谱型椭偏仪的校准(七)-椭偏仪校准方案
椭偏仪在位表征电化学沉积的系统搭建(十四)- 在位监控装置的设计
椭偏仪(六)-椭偏仪数据处理模型-第二部分
椭偏仪在位表征电化学沉积的系统搭建(十一)- 工作电极的制备与椭偏仪在位监控
椭偏仪(九)-椭偏光谱技术的应用
椭偏仪在位表征电化学沉积的系统搭建(八)- 溶液的影响和固液界面的影响
椭偏仪(二)-光在各向同性且均匀的界面反射原理
椭偏仪在位表征电化学沉积的系统搭建(二)-在位监控原理
椭偏仪(五)-椭偏仪数据处理模型-第1部分
椭偏仪与偏振相位(十一)-斯托克斯椭偏仪的偏振定标测量实验
光谱型椭偏仪的校准(四)-样片测量法
非偏振分光镜对椭偏仪的影响(一)-系统原理
椭偏成像技术(三)- 光谱椭偏成像的发展
椭偏仪与偏振相位(八)- 利用消光式椭偏仪测量波片相位延迟量实验
椭偏仪在位表征电化学沉积的系统搭建(三十)- 厚度的演变-层状模型
椭偏仪与偏振相位(五)-相位延迟量测量的实验数据
椭偏仪在位表征电化学沉积的系统搭建(二十七)- 介电常数的演变
椭偏仪与偏振相位(二)-光谱扫描法的原理及误差分析
椭偏仪在位表征电化学沉积的系统搭建(二十三)- 全波段沉积过程的准在位测试分析-不同沉积时间所对应的
椭偏成像技术(七)椭偏成像技术在生物学的应用以及数据处理
椭偏仪在位表征电化学沉积的系统搭建(二十)- 长方形流动微腔
椭偏成像技术(四)光谱椭偏成像的发展(第二部分)
椭偏仪在位表征电化学沉积的系统搭建(十六)- 可行性分析
光谱型椭偏仪的校准(六)-样片的均匀性考核
椭偏仪在位表征电化学沉积的系统搭建(十三)- 形貌及成分
椭偏仪(七)-椭偏仪数据处理模型-第三部分
椭偏仪在位表征电化学沉积的系统搭建(十)- 研究内容和意义
椭偏仪(四)-系统成像原理
椭偏仪在位表征电化学沉积的系统搭建(七)- 当前在位监测装置设计
椭偏仪在位表征电化学沉积的系统搭建(二十四)- 全波段沉积过程的准在位测试分析-不同时间所测试的光学
椭偏仪在位表征电化学沉积的系统搭建(一)-基本原理
光谱型椭偏仪的校准(一)-椭偏仪校准思路
非偏振分光镜对椭偏仪的影响(三)-NPBS1与NPBS1引入的误差分析
光谱型椭偏仪的校准(五)-样片的制备与稳定性考核
椭偏仪与偏振相位(十)- 仪器矩阵的非线性小二乘拟合定标原理
椭偏仪在位表征电化学沉积的系统搭建(三十二)- 总结与展望
椭偏仪与偏振相位(七)- 波片相位延迟量测量误差分析
椭偏仪在位表征电化学沉积的系统搭建(二十九)- 能级寿命和电导率
椭偏仪与偏振相位(四)-光强测量法的原理及误差分析
椭偏仪在位表征电化学沉积的系统搭建(二十六)- 沉积体系建模拟合
椭偏仪与偏振相位(一)-几种波片相位延迟测量的实验搭建
椭偏仪在位表征电化学沉积的系统搭建(二十二)- 沉积前装置的椭偏数据
椭偏成像技术(六)椭偏成像技术在材料学和半导体的应用
椭偏仪在位表征电化学沉积的系统搭建(十八)- Pb薄膜沉积实验
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