中红外光学断层相干成像系统（MIR OCT）
中红外OCT利用红外光对特定材料的穿透性能，比如工业膜，陶瓷，纸张，纤维、聚合物等，可用于无损检测、厚度测量、亚表面缺陷检测等。
参数指标：
中心波长 | 4.1 | um |
带宽 | 1.1 | um |
轴向分辨率（in air） | <9 | um |
横向分辨率 | <16 | um |
成像深度（in air, 6dB roll off) | 2.3 | mm |
线扫速度 | 3.3 | kHz |
B-Scan采样时间（1,000 point) | 0.3 | s |
扫描面积（mirror scan) | 3×3 | mm |
扫描面积（mechanical stages) | 75×75, 100×100, or 200×200 | mm |
设备尺寸（L×H×W） | 65×65×170 | cm |
设备重量（Plastic/MDF/steel carbinet) | 65 /80 /100 | Kg |
Maximum样品尺寸 | 75×75, 100×100, or 200×200 | mm |
应用图例：
信用卡内部芯片成像 氧化铝陶瓷亚表面结构
*** 其他详细应用信息可咨询上海昊量光电设备有限公司。
产品标签：中红外光学相干断层成像系统,中红外光学相干断层成像显微镜,MIR OCT,红外OCT,中红外OCT
