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应力双折射测量系统

超精密光学应力测量设备Hinds液晶面板应力分布测量系统非球面透镜应力双折射测量系统光伏硅锭应力测量仪 显示全部
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Hinds液晶面板应力分布测量系统

Hinds大型液晶面板高精度应力双折射分布测量系统 大尺寸,高精度液晶基板应力分布测量!

所属类别:光学检测设备 » 应力双折射测量系统

所属品牌:美国Hinds Instruments公司

负责人姓名:田工(Allen)

电话:185 0166 2513 邮箱:jinquan-tian@auniontech.com


Hinds大型液晶面板高精度应力双折射分布测量系统

大尺寸,高精度液晶基板应力分布测量!


Hinds Instruments 公司的大尺寸高精应力双折射分布测量系统专用于LED液晶玻璃基板的应力分布测量。产品测量精度极高(0.005 nm),且特制平台扫描,专用于LED液晶面板尺寸(Exicor Gen 6 - 1550 mm x 1850 mm / Exicor Gen 5  1150 mm x 1350 mm


液晶基板应力分布测量,大型液晶基板应力分布测量,应力测量。HindsExicor  GEN5 Exicor  GEN6


Hinds Instruments 公司的大尺寸高精应力双折射分布测量系统专用于LED液晶玻璃基板的应力分布测量。产品测量精度极高(0.005 nm),Hinds Instruments 公司的大尺寸高精应力双折射分布且特制平台扫描,Hinds Instruments 公司的大尺寸高精应力双折射分布专用于LED液晶面板尺寸(Exicor Gen 6 - 1550 mm x 1850 mm / Exicor Gen 5  1150 mm x 1350 mm )

对于很多偏振敏感的基板材料,诸如液晶显示玻璃基板,触屏手机基板,Hinds 大型液晶面板高精度应力双折射分布测量系统都可以很好用在系统上并得到很好的生产参数指导。






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产品标签:液晶基板应力分布测量,大型液晶基板应力分布测量,应力测量,Hinds,Exicor GEN5, Exicor GEN6

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