X-Scan X射线探测器 总部位于加利福尼亚州圣何塞，是具有高性能 cmos 线性二极管阵列 (LDA)、CMOS 和 ccd 时间延迟积分 (TDI) 探测器和线扫描相机系统制造商，专为可见光和射线照相成像应用。
TDI 是一种成熟且有效的扫描技术，能够在不影响扫描速度和检查时间的情况下增加传统 LDA 系统的曝光时间。当用于高能 X 射线、伽马射线和中子射线成像应用时，TDI 还具有特殊优势。
X-Scan 独特的设备结构和屏蔽设计为用户提供可靠的高速 X 射线成像，并在广泛的实验室和在线生产和检测环境中延长使用寿命，包括自动化产品质量检测、无损检测（NDT ) 和计算机断层扫描 (CT)。其他应用包括印刷电路板检查、焊接检查、汽车车轮和轮胎检查、食品/药品检查、珍贵艺术品和货币检查以及货物检查。
关键特征：
■ 单能量/双能量可选 ■ X射线能量范围：40-225kVp
■ 像元大小：0.05，0.1，0.2，0.4，0.8，1.5mm ■ 有效区域长度：307-1638mm
■ 动态范围 >16,000 ■ GiGE接口
■ 基于Windows和Lunix二次开发包
应用：
安全、食物、管道、铸件检查、计算机断层扫描、轮胎、电子产品、焊缝
参数指标：
产品标签：X射线探测器,X射线线阵探测器,线阵X射线探测器,X射线线阵探测模块,X射线扫描探测器
