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手持式膜厚测量仪-MProbe 20 HC(弯曲表面)手持式膜厚测量仪-MProbe 20 HC(弯曲表面)基于MProbe 20 平台可以轻松测量曲面和大型零件的薄膜厚度,MProbe 20具有专为单层和双层应用优化的数据分析算法。它还使用手动探针代替样品台。手动探头通过光纤电缆连接到测量单元。这为在任何位置的弯曲和大表面上测量厚度提供了灵活性。一些应用实例包括:抗紫外线和头灯,保险杠,尾灯盖的硬涂层,防雾涂层上的透镜和其他表面在汽车制造在眼镜镜片上进行加工和镀膜。标准手动探头用于测量 20mm 或更大的零件。可以使用定制探头测量小至 10mm 区域的涂层厚度。对于较小或圆形/圆柱形零件的厚 ...
Mprobe 20 单点薄膜测量仪MProbe 20是一款桌面式单点薄膜厚度测量系统,只需点击鼠标就可进行薄膜厚度和折射率测量,测量厚度范围1nm-1mm。MProbe 20可对多层膜层进行测量。不同的MProbe 20主要由灯源的波长范围、光谱仪的波长范围和分辨率来区分,这也决定了可以测量的材料的厚度范围和类型。MProbe 20基于光谱反射率测量,具有快速、可靠、无损等特点。配置包括:控制器(包括光谱仪、光源、光控制器、微处理器)SH200A样品台,带对焦镜头,可微调光导纤维反射探头TFCompanion -RA软件、USB适配器(授权密钥)、USB记忆棒附带软件发行、用户指南等资料根据型 ...
onsoft膜厚测量仪MProbe-MAKING THIN FILMS THICKNESS MEASUREMENT EASY美国Semisonsoft公司MProbe系列薄膜测厚仪测量厚度可以低至1nm,厚至1.8mm,埃级分辨率,非接触式无损快速测量。广泛应用在各种生产或研究中,比如测量薄膜太阳能电池的CIGS层,触摸屏中的ITO层等。大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。测量原理:当指定波长范围的光照射到薄膜上时,从不同界面上反射的光相位不同,从而引起干涉导致强度相长或相消。而这种强度的振荡是与薄膜的结构相关的。通过对这种振荡拟合和傅里叶变换就可获得样品厚度和相关的光学常数。比 ...
Film-Sense多波长椭偏仪上海昊量光电推出的多波长椭偏仪采用长寿命的LED光源,可分别提供405nm、450nm、465nm、525nm、595nm、635nm、660nm、850nm、950nm六种不同波长,并使用无移动部件的椭偏仪,紧凑的系统提供快速可靠的薄膜测量。通过1秒的测量可以精确的测量0-5000nm的大多数透明薄膜的厚度。并可以获得n和k等光学常量。相比于单波长椭偏仪,多波长椭偏仪可测定薄膜厚度,对于透明薄膜测量厚度至少可达5μm,不存在厚度周期性问题;可确定样品其它其它参数特性例如薄膜粗糙度、多层膜厚度等;对数据分析提供检测依据,一个良好的分析模型应该适用于不同波长的数据 ...
高灵敏度高分辨率光纤光谱仪(国产)光纤光谱仪产品简介 我们推出两款科研级高性能光纤光谱仪,用于高灵敏度和高分辨率的特点。其中,光纤光谱仪AUT-ES2000采用了Hamamatsu 背照式的面阵 FFT-CCD,可以完美地应用于那些需要高量子化效率和更宽谱段的领域,特别是水果分选市场。光纤光谱仪AUT-HRS4000 使用了 Toshiba 线阵高分辨 CCD,可以完美地应用于那些需要高分辨的测量领域。光纤光谱仪产品图片光纤光谱仪产品参数 AUT-ES2000高灵敏光纤光谱仪 AUT-HRS4000高分辨光纤光谱仪光谱范围370nm~1050nm(典型)200nm~1100 ...
非接触式薄膜方块电阻方阻测量仪昊量光电新推出用于导电薄膜和薄金属层方块电阻测量的非接触式薄膜四方针方块电阻方阻测量仪EddyCus TF Series,这款非接触式薄膜四方针方块电阻方阻测量仪可以非接触式实时测量,对导电薄膜和金属方块电阻精确测量,表征已被隐藏和封装的导电层,并把测量数据保存和导出。 可用于方块电阻,方阻测量,四探针测试,四探针方阻测量。非接触式薄膜四方针方块电阻方阻测量仪主要测试对象:镀膜建筑玻璃,如LowE显示器,触摸屏和平板显示器OLED和LED智能玻璃石墨烯层光伏晶圆和电池半导体晶片金属化层和晶圆金属化电池电极导电涂布纸和导电纺织品非接触式单点方阻测试仪EddyCus ...
微小区域薄膜厚度测量仪-MPROBE 40 MSPMProbe 40 测量薄膜厚度和折射率单击鼠标在小地方。显微分光光度计 (MSP) 集成在系统中同时结合显微镜,用于小点薄膜厚度测量。微小区域薄膜厚度测量仪-MPROBE 40 MSP用于数千种应用程序,并提供完整的标准模型系列来支持它们。微小区域薄膜厚度测量仪-MPROBE 40 MSP可以快速可靠地测量 1 纳米到 2 毫米的厚度,包括多层薄膜堆叠。不同的模型主要由光谱仪的波长范围和分辨率来区分,这反过来又决定了可以测量的厚度范围。微小区域薄膜厚度测量仪-MPROBE 40 MSP的应用:1.测量圆柱或曲面上薄膜厚度:注射器、支架、销钉、 ...
中红外光学断层相干成像系统(MIR OCT)中红外OCT利用红外光对特定材料的穿透性能,比如工业膜,陶瓷,纸张,纤维、聚合物等,可用于无损检测、厚度测量、亚表面缺陷检测等。参数指标:中心波长4.1um带宽1.1um轴向分辨率(in air)<9um横向分辨率<16um成像深度(in air, 6dB roll off)2.3mm线扫速度3.3kHzB-Scan采样时间(1,000 point)0.3s扫描面积(mirror scan)3×3mm扫描面积(mechanical stages)75×75, 100×100, or 200×200mm设备尺寸(L×H×W)65×65×17 ...
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