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在线薄膜厚度实时测量仪-MPROBE 70在线薄膜厚度实时测量仪-MPROBE 70是一种高性能厚度测量系统。在线薄膜厚度实时测量仪-MPROBE 70基于光谱反射率和/或透射率测量,专为产线的连续测量而设计。一些示例包括卷对卷生产中的卷材测量(薄膜和涂层的厚度)、建筑玻璃生产(反射率、透射率和颜色坐标)、轧制金属板(油或涂层厚度)等等。我们的厚度测量系统有效地测量薄膜和厚片,具有多层分辨力;透明、彩色和有色薄膜;有机或水性涂料和粘合剂。在线薄膜厚度实时测量仪-MPROBE 70与其他聚合物(如 PR、PP 和离聚物)同时测量阻隔膜(如尼龙、EVOH 或 PVD)的厚度。聚合物、玻璃、金属、塑 ...
薄膜厚度均匀度测量系统-MPROBE 60(精确定位测量)MProbe 60 是一站式系统,专为研发中心和小型制造而设计。它结合了测量厚度/n&k 与自动化小点测量的能力。MProbe 60 已应用于研发纳米技术中心。可以快速可靠地测量 1 nm至 2 mm的厚度,包括多层薄膜堆叠。不同的MProbe 60 型号主要受光谱仪的波长范围和分辨率影响,进而决定了可测量的厚度范围。薄膜厚度均匀度测量系统-MPROBE 60的优势:1.具有灵活和模块化的映射自动化的一站式系统 2.无与伦比的精度 <0.01nm 或 0.01%3.500+ 扩展材料数据库4.软件:用户友好且功能丰富的 T ...
U – 实时薄膜厚度测量仪原位薄膜厚度测量仪-MPROBE 50 INSITU用于测量薄膜厚度和 n&k(光学常数)的实时光学测量仪。该系统可以在高环境光下工作,因为它使用门控数据采集。原位薄膜厚度测量仪-MPROBE 50 INSITU使用高强度闪光氙灯在宽带 ( UV-NIR) 波长范围内进行精确测量。MProbe 50 系统是完全可定制的,以支持不同的真空室几何形状。原位薄膜厚度测量仪-MPROBE 50 INSITU根据可用的光学端口,可以使用斜入射或垂直入射。光可以聚焦在样品表面或准直。反射探头可以放置在沉积室光学端口的外部或内部(使用光纤馈通)。MProbe 50 系统没有 ...
微小区域薄膜厚度测量仪-MPROBE 40 MSPMProbe 40 测量薄膜厚度和折射率单击鼠标在小地方。显微分光光度计 (MSP) 集成在系统中同时结合显微镜,用于小点薄膜厚度测量。微小区域薄膜厚度测量仪-MPROBE 40 MSP用于数千种应用程序,并提供完整的标准模型系列来支持它们。微小区域薄膜厚度测量仪-MPROBE 40 MSP可以快速可靠地测量 1 纳米到 2 毫米的厚度,包括多层薄膜堆叠。不同的模型主要由光谱仪的波长范围和分辨率来区分,这反过来又决定了可以测量的厚度范围。微小区域薄膜厚度测量仪-MPROBE 40 MSP的应用:1.测量圆柱或曲面上薄膜厚度:注射器、支架、销钉、 ...
0 μm 的薄膜厚度,同时在整个薄膜厚度上保持高水平的结构完美可以形成非常光滑的表面低应变薄膜YIG薄膜应用领域:由于其非常低的微波损耗,单晶铁磁材料,如钇铁石榴石 (YIG) 及其等价取代的同系物,用于微波技术中的器件。例如,外延YIG涂层可用于需要微米厚薄膜的电子可调延迟块和移相器。其他应用包括集成非互易器件,如磁光隔离器和环行器,以及用于集成光学器件的布拉格单元调制器。目前,国际上正在努力开发这些绝缘体薄膜,作为信息处理中具有微纳米结构的自旋波器件(YIG-磁力学)的有前途的基础材料,并通过合适的界面将它们与电子或自旋电子元件耦合。这些组件的小型化需要亚微米范围内的薄膜厚度。外延薄膜是使 ...
刚刚看到单层薄膜厚度测量非常简单。如果您要处理多个层,则原始数据的读取要复杂得多。但是,可以对样本进行建模,并将模拟信号与实际测量值进行比较,并具有令人难以置信的拟合度。ASOPS 成像系统/ 异步光采样成像系统-neta Jax产品特点:系统使用获得zuanli的光声技术设计无损测量系统。源自 CNRS 和波尔多大学的技术转让,它依靠激光、材料和声波之间的相互作用实验超精密材料物性,薄膜厚度检测系统使用无接触,无损光学测量。运用激光产生100GHz以上超高频段超声波,以此检测获得材料诸如厚度,附着力,界面热阻,热导率等。产品尤其适测量从几纳米到几微米的薄层,无论是不透明的(金属、金属氧化物和 ...
和大型零件的薄膜厚度,MProbe 20具有专为单层和双层应用优化的数据分析算法。它还使用手动探针代替样品台。手动探头通过光纤电缆连接到测量单元。这为在任何位置的弯曲和大表面上测量厚度提供了灵活性。一些应用实例包括:抗紫外线和头灯,保险杠,尾灯盖的硬涂层,防雾涂层上的透镜和其他表面在汽车制造在眼镜镜片上进行加工和镀膜。标准手动探头用于测量 20mm 或更大的零件。可以使用定制探头测量小至 10mm 区域的涂层厚度。对于较小或圆形/圆柱形零件的厚度测量,我们推荐MProbe 40 MSP系统。手持式膜厚测量仪-MProbe 20 HC(弯曲表面)测量特点:1.支持底漆或界面(IPL)层;2.曲面 ...
密材料物性,薄膜厚度检测系统使用无接触,无损光学测量。运用激光产生100GHz以上超高频段超声波,以此检测获得材料诸如厚度,附着力,界面热阻,热导率等。产品尤其适测量从几纳米到几微米的薄层,无论是不透明的(金属、金属氧化物和陶瓷),还是半透明和透明的。 这种全光学无损检测技术(without contact, no damage, no water, no Xray)不受样品形状的影响。产品适用精度可以达 1nm to 30 microns , Z轴分辨率为亚纳米于此同时,系统提供附着力、热性能(纳米结构界面热阻)测量分析多种材料适用性广泛的材料至关重要。我们的技术已证明其能够测量许多金属材料 ...
款桌面式单点薄膜厚度测量系统,只需点击鼠标就可进行薄膜厚度和折射率测量,测量厚度范围1nm-1mm。MProbe 20可对多层膜层进行测量。不同的MProbe 20主要由灯源的波长范围、光谱仪的波长范围和分辨率来区分,这也决定了可以测量的材料的厚度范围和类型。MProbe 20基于光谱反射率测量,具有快速、可靠、无损等特点。配置包括:控制器(包括光谱仪、光源、光控制器、微处理器)SH200A样品台,带对焦镜头,可微调光导纤维反射探头TFCompanion -RA软件、USB适配器(授权密钥)、USB记忆棒附带软件发行、用户指南等资料根据型号和黑色吸收体的不同,校准装置(裸硅片和/或石英板和/或 ...
·s-1可测薄膜厚度 >10 nm吸热系数 500~50,000 J·m-2·K-1·s-0.5部分发表论文列表:1. Fangyuan Sun#, Teng Zhang#, Matthew M. Jobbins, Zhi Guo, Xueqiang Zhang, Zhongli Zheng, Dawei Tang, Sylwia Ptasinska, Tengfei Luo*, Molecular bridge enables anomalous enhancement in thermal transport across hard-soft material interfaces, Ad ...
美国Semisonsoft膜厚测量仪MProbe-MAKING THIN FILMS THICKNESS MEASUREMENT EASY美国Semisonsoft公司MProbe系列薄膜测厚仪测量厚度可以低至1nm,厚至1.8mm,埃级分辨率,非接触式无损快速测量。广泛应用在各种生产或研究中,比如测量薄膜太阳能电池的CIGS层,触摸屏中的ITO层等。大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。测量原理:当指定波长范围的光照射到薄膜上时,从不同界面上反射的光相位不同,从而引起干涉导致强度相长或相消。而这种强度的振荡是与薄膜的结构相关的。通过对这种振荡拟合和傅里叶变换就可获得样品厚度和相关 ...
椭偏仪可测定薄膜厚度,对于透明薄膜测量厚度至少可达5μm,不存在厚度周期性问题;可确定样品其它其它参数特性例如薄膜粗糙度、多层膜厚度等;对数据分析提供检测依据,一个良好的分析模型应该适用于不同波长的数据;对于薄的薄膜(<10nm)多波长椭偏仪提供的数据信息量可以与光谱椭偏仪相媲美。应用案例:原位测量: AUTFS-1 Mounted on Kurt Lesker ALD Chamber AUTFS-1 Mounted on AJA Sputter Chamber选配件:1、聚焦选项:将样品上的光束缩小至0 ...
或 投递简历至: hr@auniontech.com