产品快速导航
热门产品推荐
公司电话:021-51083793
公司传真:021-34241962#8009
E-Mail: info@auniontech.com
首页 » 产品信息 » 光学检测设备 » 膜厚测量仪

膜厚测量仪

产品名称:激光干涉膜厚测量仪
所属类别: » 光学检测设备 » 膜厚测量仪
所属品牌:韩国Nanobase公司

产品简介:Xper-IP激光干涉膜厚测量仪Xper-IP是基于Nanobase公司特有的光谱干涉技术的一款激光干涉膜厚仪,是一种非接触式、无损的、精确且快速的光学薄膜厚度测量设备。Xper-IP可用于测量各种材料(如各种薄膜,镀膜,显示面板等)的绝对厚度。薄膜测厚仪,激光干涉仪,膜厚测量仪,激光干涉薄膜测量系统韩国Nanobase公司是一家专注于激光和光谱测量领域的高科技公司,旗下有多种产品,包括拉曼光谱成 …


版权所有:上海昊量光电设备有限公司 电 话:021-51083793 传 真:021-34241962#8009 E-Mail: info@auniontech.com
沪ICP备:08102787号 地 址:上海市徐汇区漕宝路86号光大会展中心F座2802室 邮编:200235 技术支持:易点网络