首页  产品信息 激光测量设备 超短激光脉冲测量系统 二维成像光谱仪CEO-2D-NIR-V

超短激光脉冲测量系统

相位波前角色散测量仪二维成像光谱仪CEO-2D-AD二维成像光谱仪CEO-2D-NIR-V二维成像光谱仪CEO-2D-800自相关仪(最低可测单脉冲)色散测量仪软件中红外FROG超短脉冲测量仪FROG 超短脉冲测量分析仪自相关仪 显示全部
dow.png

二维成像光谱仪CEO-2D-NIR-V

二维成像光谱仪CEO-2D-NIR-V --- 超短脉冲角色散测量的光谱解析干涉仪!

所属类别:激光测量设备 » 超短激光脉冲测量系统

所属品牌:匈牙利CE Optics公司

负责人姓名:谷工(Givin)

电话:185 1625 1863 邮箱:zonghao-gu@auniontech.com


二维成像光谱仪CEO-2D-NIR-V

超短脉冲角色散测量的光谱解析干涉仪


二维成像光谱仪CEO-2D-NIR-V是所有超快近红外激光实验室的基础工具。基于光谱分辨干涉技术(SSRI),该光谱仪用于测量角色散和材料色散,精度等级高。二维成像光谱仪兼容传统的脉冲测量技术,如FROG和SEA-SPIDER等。

光谱相移,相位波前,角色散,色散测量,光谱解析干涉,载波包络相位测量,CEP,载波包络相位稳定,二维成像光谱,展宽-压缩器,啁啾脉冲放大CPA,啁啾镜,超短脉冲测量

二维成像光谱仪CEO-2D-NIR-V是所有超快近红外激光实验室的基础工具。基于光谱分辨干涉技术(SSRI),该光谱仪用于测量角色散和材料色散,精度等级高。二维成像光谱仪兼容传统的脉冲测量技术,如FROG和SEA-SPIDER等。

二维成像光谱仪CEO-2D-NIR-V具有多种波长范围,适用于不同谱宽激光脉冲的精确测量。另外,此仪器配备了两个不同的探测器。

 
技术规格:


SPECIFICATION

With Detector A

With Detector B

With Detector C

Wavelength range:

900-1700 nm

1460-1625 nm

900-1700 nm

Spectral sensitiy:

300 μW/cm2@ 1310 nm

20 mW/cm2@ 1550 nm

80 mW/cm2@ 1700 nm

less than 5 μW/cm2

@ 1310 nm

less than 5 μW/cm2

@ the whole range

Wav

length range span

113 / 38 / 22 nm

81 / 27 / 16 nm

130 / 44 / 25 nm

Spectral resolution

0.09/0.03/0.02nm

0.11 / 0.036 / 0.022 nm

0.2 / 0.07 / 0.04 nm

Spatial range

6.4 / 9.6 / 12.8 mm

4.8 / 7.3 / 9.7 mm

5.8 / 8.7 / 11.6 mm

Spatial resolution

6.3 / 9.4 / 12.5 μm

8.3 / 12.5 / 16.6 μm

11.3 / 17 / 20 μm

Detector type

CMOS

CMOS with phosphor layer

 

InGaAs

Detector resolution

1280x1024

752 x 582

640x512

Connection

USB 2.0

Analog converted to USB

USB 2.0

Triggerable

No

No

Yes








询问表格

* 号为必填内容
  • *
  • *
  • *
  • *
  • 验证码

产品标签:光谱相移,相位波前,角色散,色散测量,光谱解析干涉,载波包络相位测量,CEP,载波包络相位稳定,二维成像光谱,展宽-压缩器,啁啾脉冲放大CPA,啁啾镜,超短脉冲测量

数据单下载

* 号为必填内容
请在下载前填写下面表单
Please fill in the form in before you download
  • *
  • *
  • *
  • *
  • 验证码

预约试用

* 号为必填内容
请在下载前填写下面表单
Please fill in the form in before you download
  • *
  • *
  • *
  • *
  • 验证码