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超快激光色散与相位测量设备

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二维成像光谱仪CEO-2D-AD

二维成像光谱仪CEO-2D-AD --- 超短脉冲角色散测量的光谱解析干涉仪!

所属类别:激光测量设备 » 超快激光色散与相位测量设备

所属品牌:匈牙利CE Optics公司

负责人姓名:谷工(Givin)

电话:185 1625 1863 邮箱:zonghao-gu@auniontech.com


二维成像光谱仪CEO-2D-AD

超短脉冲角色散测量的光谱解析干涉仪


二维成像光谱仪 CEO-2D-AD是角色散测量的理想仪器。 其幽灵般的过滤宽带光束获得良好的光谱分离峰。由于这些光谱成分在空间上仍然是重叠的,所以我们用消色差透镜将它们成像到二维传感器上。因此,根据角色散的方向,打到传感器表面上的光谱将出现分离。二维成像光谱仪CEO-2D-AD非常适用于CPA系统的展宽-压缩级测量,甚至THz产生或阿秒光监测。

光谱相移,相位波前,角色散,色散测量,光谱解析干涉,载波包络相位测量,CEP,载波包络相位稳定,二维成像光谱,展宽-压缩器,啁啾脉冲放大CPA,啁啾镜,超短脉冲测量

一旦激光束受角色散影响,它的光谱成分传播到不同的方向,因此,在物镜的焦平面上,此光束与无角色散光束的焦斑相比会扭曲增大。强度分布形状能够表征光谱的角偏移。

二维成像光谱仪 CEO-2D-AD是角色散测量的理想仪器。 其幽灵般的过滤宽带光束获得良好的光谱分离峰。由于这些光谱成分在空间上仍然是重叠的,所以我们用消色差透镜将它们成像到二维传感器上。因此,根据角色散的方向,打到传感器表面上的光谱将出现分离。

二维成像光谱仪CEO-2D-AD非常适用于CPA系统的展宽-压缩级测量,甚至THz产生或阿秒光监测。




产品特性:
单发测量,实时运行
完美适用于CPA系统的展宽-压缩对齐
高测量精度
用于精确测量接近零的角色散的光栅



技术规格:

Specifications

CEO-2D-AD

CEO-2D-AD-PRO

Measurement accuracy

Better than 1urad/nm

Better than 0.42urad/nm

Fabry-Perot design

Air-spaced, fixed base length

Air-spaced, fixed base length

Fabry-Perot spacing

27nm

17nm

Support grating

Ruled, 600 1/mm

Ruled, 300 1/mm

Detector resolution

1280×1024

1600×1200

Detector S/N ratio

38dB

62dB

Pixel size

4.65um

4.4um

Connection

USB 2.0

USB 2.0

Triggerable

Yes

Yes

Measurement software

Yes

Yes






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产品标签:光谱相移,相位波前,角色散,色散测量,光谱解析干涉,载波包络相位测量,CEP,载波包络相位稳定,二维成像光谱,展宽-压缩器,啁啾脉冲放大CPA,啁啾镜,超短脉冲测量

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