首页  产品信息 激光测量设备 超快激光色散与相位测量设备 二维成像光谱仪CEO-2D-800

超快激光色散与相位测量设备

相位波前角色散测量仪二维成像光谱仪CEO-2D-AD二维成像光谱仪CEO-2D-NIR-V偏振旋转器二维成像光谱仪CEO-2D-800载波包络相位测量仪载波包络相位调谐仪材料色散测量仪色散测量仪软件 显示全部
dow.png

二维成像光谱仪CEO-2D-800

二维成像光谱仪CEO-2D-800 --- 超短脉冲角色散测量的光谱解析干涉仪 !

所属类别:激光测量设备 » 超快激光色散与相位测量设备

所属品牌:匈牙利CE Optics公司

负责人姓名:谷工(Givin)

电话:185 1625 1863 邮箱:zonghao-gu@auniontech.com


二维成像光谱仪CEO-2D-800

超短脉冲角色散测量的光谱解析干涉仪


二维成像光谱仪CEO-2D-800用于超短脉冲的特性测量,尤其是配合相位波前角色散测量仪PhADIM装置使用,通过光谱时域分辨干涉技术对色散进行测量。二维成像光谱仪CEO-2D-800适用于任意钛宝石激光器实验室。基于光谱分辨干涉技术(SSRI),该光谱仪用于测量角色散和材料色散,精度等级高。二维成像光谱仪兼容传统的脉冲测量技术,如FROG和SEA-SPIDER等。

光谱相移,相位波前,角色散,色散测量,光谱解析干涉,载波包络相位测量,CEP,载波包络相位稳定,二维成像光谱,展宽-压缩器,啁啾脉冲放大CPA,啁啾镜,超短脉冲测量

二维成像光谱仪CEO-2D-800用于超短脉冲的特性测量,尤其是配合相位波前角色散测量仪PhADIM装置使用,通过光谱时域分辨干涉技术对色散进行测量。

二维成像光谱仪CEO-2D-800适用于任意钛宝石激光器实验室。基于光谱分辨干涉技术(SSRI),该光谱仪用于测量角色散和材料色散,精度等级高。二维成像光谱仪兼容传统的脉冲测量技术,如FROG和SEA-SPIDER等。

 
技术规格:


型号

CEO-2D-800

CEO-2D-800V

波长范围

740-860nm

735-865nm

700-900nm

670-930nm

光谱分辨率

0.1nm

0.1nm

0.15nm

0.2nm

空间范围

6.9mm

6.7mm

10mm

13.5mm

空间分辨率

6.7um

6.5um

9.7um

13um

传感器类型

CMOS

CCD

传感器分辨率

1280×1024

接线标准

IEEE1394A

能否触发

尺寸

250×210×110mm








询问表格

* 号为必填内容
  • *
  • *
  • *
  • *
  • 验证码

产品标签:光谱相移,相位波前,角色散,色散测量,光谱解析干涉,载波包络相位测量,CEP,载波包络相位稳定,二维成像光谱,展宽-压缩器,啁啾脉冲放大CPA,啁啾镜,超短脉冲测量

数据单下载

* 号为必填内容
请在下载前填写下面表单
Please fill in the form in before you download
  • *
  • *
  • *
  • *
  • 验证码

预约试用

* 号为必填内容
请在下载前填写下面表单
Please fill in the form in before you download
  • *
  • *
  • *
  • *
  • 验证码