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超快激光色散与相位测量设备

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载波包络相位测量仪

载波包络相位测量仪 --- 纯线性光学技术测量载波包络相位相移工具!

所属类别:激光测量设备 » 超快激光色散与相位测量设备

所属品牌:匈牙利CE Optics公司

负责人姓名:谷工(Givin)

电话:185 1625 1863 邮箱:zonghao-gu@auniontech.com


载波包络相位测量仪

纯线性光学技术测量载波包络相位相移工具

载波包络相位测量仪CEOLiT用于对超短脉冲序列的CEP载波包络相位进行精确测量。其原理是超稳定传输环路的光谱由脉冲序列的CEP载波包络相位来决定。由于该技术是完全线性化技术,载波包络相位测量仪CEOLiT是世界上唯一能够对UV-IR极端波长微弱脉冲的载波包络相位进行测量的产品,光束带宽可以窄化到一个倍频程。

光谱相移,相位波前,角色散,材料色散,光谱解析干涉,载波包络相位测量,CEP,载波包络相位稳定,二维成像光谱,展宽-压缩器,啁啾脉冲放大CPA,啁啾镜,超短脉冲测量


当前测量CEP载波包络相位的常规方法要求:
激光脉冲需要倍频程宽度
足够的脉冲能力驱动非线性过程
频谱范围受非线性过程的限制

载波包络相位测量仪CEOLiT用于对超短脉冲序列的CEP载波包络相位进行精确测量。其原理是超稳定传输环路的光谱由脉冲序列的CEP载波包络相位来决定。由于该技术是完全线性化技术,载波包络相位测量仪CEOLiT是世界上唯一能够对UV-IR极端波长微弱脉冲的载波包络相位进行测量的产品,光束带宽可以窄化到一个倍频程。


产品特点:
基于线性光学干涉法
无带宽限制
对准及操作简单
无频谱范围限制
降低噪声及机械振动设计
精确CEP载波包络相位测量
采用超稳定HeNe激光,对环形长度进行测量并控制在1um以下
包含测量和稳定控制软件
CEP载波包络相位探测速度达35kHz


技术规格:


载波包络相位测量精度:@800nm

@1030nm

                      @1550nm

< 69 mrad

< 54 mrad

< 36 mrad

 

脉冲序列重频(MHz

68-90

脉冲序列最小脉冲数

<3

光谱范围(um

<0.15-20

通光孔径(mm

10

体积(L×W×H):

575×370×150



长期稳定性图:


相位噪声密度图:

 

 

 




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产品标签:光谱相移,相位波前,角色散,材料色散,光谱解析干涉,载波包络相位测量,CEP,载波包络相位稳定,二维成像光谱,展宽-压缩器,啁啾脉冲放大CPA,啁啾镜,超短脉冲测量

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