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衍射光学器件

激光模式转换器3D超分辨率单分子定位显微镜模块(无需扫描)涡旋相位板衍射光学器件 显示全部
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高度标准块

  • 高度标准块
SILIOS公司提供各中采用其技术生产的垂直高度标准块,主要用于原子力显微镜(AFMs)及扫描探

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所属品牌:

产品负责人:

姓名:陈工(Jack)

电话:186 2116 1680(微信同号)

邮箱:changying-chen@auniontech.com

高度标准块


SILIOS公司提供各中采用其技术生产的垂直高度标准块,主要用于原子力显微镜(AFMs)及扫描探针显微镜(SPMs)的校准工作。高度从 1nm到 20 nm.


Code

Step Height Range(1)

SIL020

20 nm

SIL010

10 nm

SIL005

5 nm

SIL001

< 3 nm


Tolerances : Typical : +/- 1 nm
Option 1 : SILIOS certified (optical and mechanical measurements)
Option 2 : Certification from an accredited laboratory (ISO5436 based)



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