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衍射光学器件

螺旋相位板高度标准块标准相位板衍射光学器件 显示全部
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高度标准块

SILIOS公司提供各中采用其专利技术生产的垂直高度标准块,主要用于原子力显微镜(AFMs)及扫描探

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所属品牌:

负责人姓名:陈工(Jack)

电话:186 2116 1680 邮箱:changying-chen@auniontech.com


高度标准块


SILIOS公司提供各中采用其专利技术生产的垂直高度标准块,主要用于原子力显微镜(AFMs)及扫描探针显微镜(SPMs)的校准工作。高度从 1nm到 20 nm.


Code

Step Height Range(1)

SIL020

20 nm

SIL010

10 nm

SIL005

5 nm

SIL001

< 3 nm


Tolerances : Typical : +/- 1 nm
Option 1 : SILIOS certified (optical and mechanical measurements)
Option 2 : Certification from an accredited laboratory (ISO5436 based)




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产品标签:高度标准块

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