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磁学测量

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磁光克尔效应测量系统

磁光克尔效应测量系统--市场上配置最灵活的磁光克尔效应测量系统u-MOKE!

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所属品牌:

负责人姓名:李工(William)

电话:156 1809 2363 邮箱:wentao-li@auniontech.com


磁光克尔效应测量系统

市场上配置最灵活的磁光克尔效应测量系统u-MOKE


当聚焦激光束照射磁性材料(主要是磁性薄膜)时,因纵向磁光克尔效应和极向磁光克尔效应会造成激光偏振态变化(克尔偏转角变化),磁光克尔效应测量系统u-MOKE就是一套精确测量克尔偏转角变化的设备。

磁光克尔效应测量系统u-MOKE通过装备的极向/面内磁体产生磁场测量偏振态的变化,可以测量分析磁性材料um量级局部区域的磁学特性。

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应用:
n  基于极向克尔效应与纵向克尔效应的微观局部磁性分析
n  适用于磁象和磁性薄膜的um尺寸灵敏度分析

 
n  主要参数:
   光源:半导体激光器(典型405nm)
n  光斑直径:纵向测量:约5um
   极向测量:约2um
n  探测灵敏度:±0.005°
n  探测范围:±1°
n  磁场:极向磁体:>±10kOe
   面内磁体可选

 
测量项目:
磁滞回线:X轴:外加磁场H
          Y轴:克尔信号θk

获得关键值(from磁滞回线):
矫顽力Hc
各项异性场Hk
反向磁化Hn
饱和磁场Hs

剩余磁化强度θr
饱和磁化强度θs

 
同类产品系列:
高灵敏度磁光克尔效应测量系统——灵敏度0.001°
时间分辨磁光克尔效应测量系统——时间分辨率50ps




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产品标签:磁光克尔测量装置,MOKE,NanoMOKE,极向克尔效应,纵向克尔效应,横向克尔效应,表面磁光克尔效应,克尔磁光效应,磁畴测量,磁滞回线测量,材料磁性测量

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